Aktuelles
11 / 2012 - ISIS sentronics erhält Anerkennung beim Innovationspreis des Landes Baden-Württemberg 2012
ISIS sentronics erhält für beispielhafte Leistungen eine Anerkennung im Rahmen des Innovationspreises des LandesBaden-Württemberg – Dr.-Rudolf-Eberle-Preis – 2012. Bereits vor einigen Jahren wurde ISIS sentronics für den ersten Hautsensor mit dem Innovationspreis ausgezeichnet.
In diesem Jahr gab es 91 Bewerber aus Baden-Württemberg, die an der Ausschreibung zum Innovationspreis teilgenommen haben.
09 / 2012 - Neues vollautomatisches und kompaktes LED Wafer Inspektionssystem SemDex AR13
Beständige Qualität bei gleichzeitig hohen Erträgen, große Produktionsvolumen und die Fähigkeit den Produkt-Mix flexibel anzupassen, Kostenreduktion durch Verwendung von großen Wafer-Durchmessern, dies alles trägt zur nachhaltigen Wettbewerbsfähigkeit auf dem Sapphire-Wafer-Markt bei.
07 / 2011 - Neuer Dünnschicht Sensor StraDex t6-60
Mit dem neuen StraDex t6-60 können jetzt auch dünnste Schichten von 0.2 µm aufwärts gemessen werden.
Veranstaltungen / Messen
04 / 2013 - ISIS sentronics auf der K-Messe 2013, in Düsseldorf
Wir freuen uns, Sie vom 16.-23. Oktober 2013 in Düsseldorf begrüßen zu dürfen!
Die K ist die weltweit bedeutendste Messe für Kunststoff und Kautschuk - der Branchentreffpunkt für Innovation, Information und Investition.
Halle, 11F30
01 / 2013 - ISIS sentronics auf der Control 2013
Control 2013
Internationale Fachmesse für Qualitätssicherung
14.-17. Mai 2013
Messe Stuttgart, Halle 3, Stand 3310
11 / 2012 - ISIS sentronics auf der ICE Europe 2013
ICE Europe 2013
8th International Converting Exhibition
19. -21. März 2013
Messe München
Halle A5, Stand 945
Pressemitteilungen
05 / 2012 - 3D-Inspektionssystem i-Dex tf
Die Basistechnologie bei dem 3D-System i-Dex tf von Isis, Mannheim, ist eine Variante der optischen Weißlicht-Interferometrie. Dabei kommt der Sensor RayDex cr zum Einsatz.
04 / 2012 - Multipunkt-Messungen zur automatisierten Qualitätssicherung auf der CONTROL 2012
ISIS sentronics stellt auf der CONTROL 2012 (Halle 3 Stand 3310) das Innenraum-Inspektionssystem ‚i-Dex tf’ mit diversen neuen Features vor.
08 / 2011 - Halb-Automatisches 3D-Messsystem für Form- und Oberflächenmessungen
Die ISIS sentronics GmbH in Mannheim hat mit dem i-Dex ta ein neues Messsystem mit berührungsloser, optischer Metrologie für 3D-Mikro-Topographien und 2D-Rauheiten an der Oberfläche entwickelt.