Aktuelles
07 / 2011 - Neuer Dünnschicht Sensor StraDex t6-60
Mit dem neuen StraDex t6-60 können jetzt auch dünnste Schichten von 0.2 µm aufwärts gemessen werden.
Veranstaltungen / Messen
01 / 2012 - ISIS sentronics auf der SEMICON China 2012
Semicon China 2012
20.-22. März 2012
Shanghai New International Expo Center
Stand 2405, Halle E2 (JC's Chunson Ltd.)
01 / 2012 - ISIS sentronics auf der Semicon Korea 2012
Semicon Korea 2012
07.-09. Februar 2012
COEX, Seoul, Korea, Halle C, Stand 1652 (KAMI Inc.)
11 / 2011 - ISIS sentronics auf der Control 2012 in Stuttgart
Control 2012
08.-11. Mai 2012
Messe Stuttgart, Halle 3, Stand 3310
Pressemitteilungen
07 / 2011 - Halb-Automatisches 3D-Messsystem für Form- und Oberflächenmessungen
Die ISIS sentronics GmbH in Mannheim hat mit dem i-Dex ta ein neues Messsystem mit berührungsloser, optischer Metrologie für 3D-Mikro-Topographien und 2D-Rauheiten an der Oberfläche entwickelt.
03 / 2011 - Halbautomatische Innenraum-Inspektionssysteme i-Dex f / tf
Basierend auf dem Komplettsystem i-Dex f, das Innenräume von Freiformobjekten dreidimensional erfasst, ist der 1 m hohe i-Dex tf die Tischversion mit einer auf 50 mm begrenzten Messobjekthöhe.
03 / 2011 - ISIS sentronics präsentiert ‚i-Dex tf’ im neuen ‚Kompakt-Format’ auf der CONTROL 2011
ISIS sentronics, innovativer Anbieter von optischen, kontaktfrei arbeitenden Sensoren für die industrielle Inspektion, stellt auf der CONTROL in Stuttgart (Halle 3 Stand 3310) erstmals den neuen ‚i-Dex tf’ – das weltweit erste halbautomatische Innenraum-Inspektionssystem – vor, welches seit kurzem auch als ‚Tischversion’ erhältlich ist.