Rauheit / 3D Mikro-Topographie
Die Rauheit einer Materialoberfläche wird ein zunehmend wichtiger Parameter um einerseits Bearbeitungsprozesse zu definieren und andererseits Abrieb bzw. Gleiteigenschaften vorherzusagen.
Das Table-Top Mess-System i-Dex ta mit integriertem StraDex a Sensor liefert extrem schnell die gewünschten Daten, da alle wesentlichen Daten-Algorithmen im Sensor selbst abgearbeitet werden. Um auch die absolute Genauigkeit bis in den sub-nm Bereich sicherstellen zu können, wurde erstmals eine Vergleichsstudie zu AFM („Atomic Force Microscopy“) erstellt. Die typischen Rauheitsparameter Ra/Rq/Rz sind direkt ablesbar (z.B. DIN 4728). Die früher üblichen 1D- Rauheiten am Profil werden zunehmend durch robustere 2D- Flächenmessungen ersetzt, welche die Tragzahl in den Parametern (ISO 25178) angeben.
Messsysteme/ Sensoren für:
Rauheit / 3D Mikro-Topographie
