News
09 / 2012 - NEW fully-automated compact LED Wafer Inspection System SemDex AR13
Continuous quality with high yields, large production volumes, the capability to adapt the product mix and finally large diameter wafers reduce the production cost for sapphire wafers. All this contributes to a sustainable competitiveness in the sapphire wafer market for LED’s.
07 / 2011 - New thin film sensor StraDex t6-60
Using the new StraDex t6-60 it is possible to measure thinnest films down to 0.3 µm.
Events / Trade Fairs
04 / 2013 - ISIS sentronics at K-Trade Fair 2013 in Düsseldorf, Germany
We are pleased to welcome you from 16.-23. October 2013 in Düsseldorf!
K is the world’s premier trade fair for plastics and rubber - the industry meet and greet for innovation, information and investment.
Hall, 11F30
01 / 2013 - ISIS sentronics at the Control 2013 fair
Control 2013
The world’s leading trade fair for quality assurance
14-17 May 2013
Exhibition Center, hall 3, booth 3310
Stuttgart/ Germany
11 / 2012 - ISIS sentronics auf der ICE Europe 2013
ICE Europe 2013
8th International Converting Exhibition
19. -21. März 2013
Messe München
Hallo A5, Stand 945
Press releases
04 / 2012 - Multipunkt-Messungen zur automatisierten Qualitätssicherung auf der CONTROL 2012
ISIS sentronics stellt auf der CONTROL 2012 (Halle 3 Stand 3310) das Innenraum-Inspektionssystem ‚i-Dex tf’ mit diversen neuen Features vor.
09 / 2011 - ISIS sentronics with new i-Dex t model
Für die industrielle Inspektion bietet ISIS sentronics ein Innenraum-Inspektionssystem mit dem erweiterten Spektrum der i-Dex Reihe.
08 / 2011 - Semi-automatic 3D inspection system for shape and surface measurements
Die ISIS sentronics GmbH in Mannheim hat mit dem i-Dex ta ein neues Messsystem mit berührungsloser, optischer Metrologie für 3D-Mikro-Topographien und 2D-Rauheiten an der Oberfläche entwickelt.