News
07 / 2011 - New thin film sensor StraDex t6-60
Using the new StraDex t6-60 it is possible to measure thinnest films down to 0.3 µm.
Events / Trade Fairs
01 / 2012 - ISIS sentronics auf der SEMICON China 2012
Semicon China 2012
20-22 March, 2012
Shanghai New International Expo Center
Booth 2405, Hall E2 (JC's Chunson Ltd.)
01 / 2012 - ISIS sentronics at the Semicon Korea show 2012
Semicon Korea 2012
07-09 February, 2012
COEX, Seoul, Korea, Hall C, Booth No. 1652 (KAMI Inc.)
11 / 2011 - ISIS sentronics at the Control 2012 fair in Stuttgart/ Germany
Control 2012
08-11 May, 2012
Stuttgart Exhibition Center, hall 3, booth 3310
Press releases
09 / 2011 - ISIS sentronics with new i-Dex t model
Für die industrielle Inspektion bietet ISIS sentronics ein Innenraum-Inspektionssystem mit dem erweiterten Spektrum der i-Dex Reihe.
08 / 2011 - Semi-automatic 3D inspection system for shape and surface measurements
Die ISIS sentronics GmbH in Mannheim hat mit dem i-Dex ta ein neues Messsystem mit berührungsloser, optischer Metrologie für 3D-Mikro-Topographien und 2D-Rauheiten an der Oberfläche entwickelt.
11 / 2009 - ISIS wins innovation award on the ICE in Munich
Auf der diesjährigen ICE (International Converting Exhibition) war ISIS sentronics zum ersten Mal mit dem neuen Dünnschicht-Sensor StraDex p vertreten.