SemDex 295
mit StraDex f Sensor und HD CMOS Kamera
SemDex 295
Kosteneffektives Table-Top System für Bow / Warp- und Schichtdickenmessungen
Metrologie:
Eigenschaften:
- Einfaches manuelles Beladen
- Automatische Vermessung
- Schichtdicken- und Bow / Warp-Messung in einem Schritt
- Kompaktes Gerät mit optimiertem Footprint
- Hohe Datenaufnahme durch Rotationsstage
- Bedienerfreundliche Software: WaferSpect/ StratoSpect
Branchen / Anwendungsgebiet: